|
福建非飽和（hé）高壓加（jiā）速老（lǎo）化試驗機用於調（diào）查分析何時出現電子元器件，和機（jī）械零件的摩耗和使用（yòng）壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什麽樣的（de）形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的（de）試驗！隨著半（bàn）導體可靠性的提高半導體（tǐ）器件能承受長期（qī）的THB試驗而（ér）不會產生失效，因（yīn）此用來確定成品質量的（de）測試時間（jiān）也相應增加了許多（duō）.為了（le）提高試驗（yàn）效率（lǜ）、減少試（shì）驗時（shí）間（jiān）。
更新時間:2024-03-29
|
HAST高溫高（gāo）壓（yā）加速老化（huà）測（cè）試機用於調查（chá）分析何（hé）時（shí）出現電子元器件，和（hé）機械零件的（de）摩耗和（hé）使用壽（shòu）命的問題，使用壽命的故（gù）障分布函數呈什（shí）麽（me）樣的形（xíng）狀，以及（jí）分（fèn）析（xī）失效率（lǜ）上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性（xìng）的（de）提高（gāo）半（bàn）導體器件能承受（shòu）長期的THB試驗（yàn）而（ér）不會產生失效，因此用來確定成品質量的測（cè）試（shì）時間也（yě）相應（yīng）增加了許多.為了提高試驗效率、減少（shǎo）試驗時間。
更新（xīn）時間:2024-03-18|
|
hast非飽和高（gāo）壓（yā）老化試驗箱用於調查分析（xī）何時出現電子元器件，和機械零（líng）件的（de）摩耗和使用（yòng）壽命的問題，使（shǐ）用壽命的故障分（fèn）布函數呈什麽樣的形狀，以及分析失效率上升的原因（yīn）所進行的試驗！隨著半導體可靠（kào）性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不（bú）會（huì）產生（shēng）失效，因此用（yòng）來確定成品質（zhì）量（liàng）的測試時間（jiān）也相應增加了許多.為（wéi）了提高試驗（yàn）效率（lǜ）、減少（shǎo）試驗時間。
更新時間:2024-03-12|
|
hast非飽和高壓加速老（lǎo）化（huà）試驗箱用於調查分析何（hé）時出現電子元器件，和（hé）機械零件（jiàn）的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的（de）故障分布函（hán）數（shù）呈什麽樣的（de）形狀，以及分析失效率上升（shēng）的原因所進行的試驗（yàn）！隨著半導體可靠性（xìng）的提高（gāo）半導體器件能承受長期的THB試驗而不會（huì）產生失效，因此用來確定（dìng）成品質量的測試（shì）時間也相應（yīng）增加了許多.為了提高試驗效（xiào）率、減少試驗時間。
更新時間（jiān）:2024-03-11|
|
非飽和高（gāo）壓（yā）加（jiā）速老化試驗箱用於（yú）調查分析何時出現電子（zǐ）元器（qì）件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題（tí），使用壽命的（de）故障分布函數呈什麽樣的形狀（zhuàng），以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性（xìng）的（de）提高半（bàn）導體器件能承受長（zhǎng）期的（de）THB試驗而不會產生（shēng）失效（xiào），因此（cǐ）用來確定成（chéng）品質（zhì）量的測試時間（jiān）也相應（yīng）增加了許多.為了提高試驗效率、減少試（shì）驗時間。
更新時間:2024-03-09|
|
可程式高壓加速（sù）老（lǎo）化試驗機用於調查分（fèn）析何時出現電子元器件，和（hé）機械零件的（de）摩耗和使用壽（shòu）命的（de）問題，使用（yòng）壽命（mìng）的故（gù）障分布函數呈什（shí）麽樣的形（xíng）狀，以及分析失效（xiào）率（lǜ）上（shàng）升的原（yuán）因所進行的（de）試驗（yàn）！隨著半導體可靠性（xìng）的提高半導（dǎo）體器件能承受長期的THB試（shì）驗而不會產生失效，因此用來確定成（chéng）品質量（liàng）的測試時間也相應增加了許多.為了提（tí）高試驗效率、減少試驗時（shí）間。
更新時間（jiān）:2024-03-07|
|
hast高（gāo）壓加速老（lǎo）化試驗（yàn）機用於調查分析何時出（chū）現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題（tí），使用壽命的（de）故障分布函（hán）數呈什麽（me）樣的形狀，以及分析失效率上升（shēng）的原因所進行的試驗（yàn）！隨著（zhe）半導體可靠性的（de）提高半導（dǎo）體（tǐ）器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用（yòng）來確定成（chéng）品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減（jiǎn）少試驗時（shí）間（jiān）。
更（gèng）新時間（jiān）:2024-03-05|
|
PCT高（gāo）壓加速（sù）老化試驗設（shè）備用於調查分析何（hé）時出現電子元（yuán）器件，和機械零件的摩耗（hào）和使用壽命的（de）問題，使用壽命的（de）故（gù）障分布函數呈什（shí）麽樣的形狀，以及（jí）分析失效率上升的原因所進（jìn）行的（de）試驗！隨著半導（dǎo）體可（kě）靠性（xìng）的提高半導體（tǐ）器件（jiàn）能（néng）承受長期的THB試驗而不（bú）會產生失效，因此用來確定成品質（zhì）量的測試時間也（yě）相應增加了許多.為了提高試（shì）驗效率、減（jiǎn）少（shǎo）試驗時間（jiān）。
更新時間:2024-03-05|
|
PCT老化試驗箱用於調查分析何時出現電子元（yuán）器件，和機械零件的摩耗和（hé）使用壽命的問（wèn）題（tí），使用壽命的故障（zhàng）分布函數呈什麽（me）樣的（de）形（xíng）狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半（bàn）導體可（kě）靠性的提高半導體器件（jiàn）能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加（jiā）了許多.為（wéi）了提高試驗效（xiào）率、減少試驗時間。
更新（xīn）時間（jiān）:2024-03-04|
|
非飽和高壓（yā）加速老化試驗機用於調查（chá）分析何時出現電子元（yuán）器件，和機械（xiè）零件的摩耗和（hé）使（shǐ）用壽（shòu）命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什麽樣的形狀，以及分析失效率上升的原（yuán）因所進行的試驗！隨著半導體可（kě）靠性的提高（gāo）半導體器件能承受長（zhǎng）期的（de）THB試驗而（ér）不會產生失（shī）效，因此用來確定成品（pǐn）質量的測試時（shí）間也相應增（zēng）加了許多（duō）.為了提高試驗效率、減（jiǎn）少試驗時間。
更新時間:2024-03-04|
|
高壓加速老化試驗機用（yòng）於調（diào）查分析（xī）何時出現電子元器件，和機械零件（jiàn）的摩（mó）耗和使（shǐ）用壽（shòu）命的問題，使用壽命的故（gù）障分布函數呈什麽樣的形狀，以及分析（xī）失（shī）效率上升的原因（yīn）所進行（háng）的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能（néng）承受長期的THB試驗（yàn）而（ér）不（bú）會產生失（shī）效，因此用來確（què）定成品質量的測（cè）試時（shí）間（jiān）也相應增加了許多.為了（le）提高試驗效（xiào）率、減少試驗（yàn）時間。
更（gèng）新時間（jiān）:2024-03-04